ProberStation 200—A Large Sample AFM System
The ProberStation 200 from Semilab allows automated AFM measurements while assuring the lowest co……...
TESCAN 为地球科学、材料科学、生命科学和半导体行业提供纳米级研究和分析服务。公司拥有 30 年的研发历史,致力于为全球科研和工业客户提供创新型电子束和聚焦离子束显微镜、微型计算机断层扫描 (CT) 及相关软件解决方案。TESCAN 品牌的创立得益于公司参与的顶尖科研项目以及与电子显微镜和微分析领域领先企业的合作,并在微纳米技术领域占据领先地位。
TESCAN 集团成立于 2013 年,是长期扩张和在全球范围内设立子公司的成果,其中包括总部位于法国的 ORSAY PHYSICS,该公司是定制聚焦离子束和电子束技术的全球领导者。TESCAN 集团的总部、生产和研发中心均位于捷克共和国布尔诺。 TESCAN集团是TESCAN集团的北美子公司,总部位于美国宾夕法尼亚州沃伦代尔。每一台TESCAN显微镜均在布尔诺专业生产,并运往全球客户。
公司专注于以下领域的研发和设备制造:
SEM解决方案
FIB-SEM解决方案
4D-STEM解决方案
Micro-CT解决方案
产品
uct 附加组件
应用范围广泛
对科学理解的不懈追求激励着 TESCAN 不断开发成像、分析和修改技术,以满足客户日益增长的需求。随着研究人员和科学家不断突破界限,他们开始使用 TESCAN 设计和制造的仪器对结构进行成像,这些结构通常是纳米级的,从而揭示材料结构/性能关系的秘密,包括细胞行为方式以及地球的形成过程。
TESCAN 开发了先进的扫描电子显微镜 (SEM)、聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 和微型 CT,使科学家能够以高分辨率、高对比度甚至在某些情况下动态地对样品进行成像。此外,这些系统在设计时充分考虑了多功能性,允许用户通过添加额外的探测器/微分析功能和其他配件来定制系统,以满足最复杂的实验需求,最终实现最全面的分析。
随着科学的发展,TESCAN 仪器的应用范围也在不断扩大。无论是现成的系统还是定制设计的仪器,TESCAN 都欢迎与业界和学术界的科学家合作,共同设计满足特定需求的系统。
TESCAN 不断开发先进的
ed 产品为客户创造了竞争优势。公司最新和最具创新性的产品包括:
TESCAN TENSOR:一款集成式进动辅助分析型 4D STEM。
TESCAN UniTOM HR:首款在单一高度通用的系统中提供亚微米空间分辨率和高时间分辨率动态 CT 的微型 CT 系统。
TESCAN TENSOR
2022 年,TESCAN 向全球市场推出了革命性的 TENSOR 4D 扫描透射电子显微镜 (4D-STEM)。TENSOR 是全球首款集成式进动辅助分析型 4D-STEM。TENSOR 的全新设计旨在将性能和用户体验提升到全新水平。它旨在满足任何对多模态纳米表征应用(形态、化学和结构)感兴趣的人士的需求,包括材料科学家、半导体研发和故障分析 (FA) 工程师以及晶体学家。
TESCAN UniTOM HR
TESCAN 的尖端微型 CT 系统可实现图像采集、3D 重建、3D 可视化和量化。高速成像还能实现动态或 4D CT,从而揭示结构随时间的变化,这些变化是变量(例如负载)变化的函数。TESCAN 提供满足各种技术要求和预算的解决方案。
2021 年,TESCAN 推出
推出了全新的 UniTOM HR#8213;这是首款动态微型 CT 系统,可提供亚微米分辨率的 3D 无损成像,用于静态研究,以及高时间分辨率,用于不间断的 4D 动态 CT 实验。UniTOM HR 是工业和学术研究人员的理想选择,他们需要微型 CT 成像来可视化采样器的内部结构,并希望深入了解采样器在特定环境条件下的行为。
TESCAN SEM 和 FIB-SEM
2019 年,TESCAN 向全球市场推出了新一代第四代 SEM 和 FIB-SEM 系列。这些先进的系统为样品制备提供了最先进的功能和高质量的性能。 TESCAN 全面的 SEM 产品套件包括:
TESCAN VEGA Compact:紧凑型分析型 SEM,适用于微米级常规材料表征、研究和质量控制应用
TESCAN VEGA:分析型 SEM,适用于微米级常规材料表征、研究和质量控制应用
TESCAN MIRA:高分辨率分析型 SEM,适用于亚微米级常规材料表征、研究和质量控制应用
TESCAN CLARA:无场分析型 UHR SEM,适用于纳米级材料表征
TESCAN MAGNA:UHR SEM,适用于亚纳米级纳米材料表征<
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TESCAN AMBER X:独特的等离子聚焦离子束 (FIB) 与无场超高分辨场发射扫描电镜 (UHR FE-SEM) 组合,适用于多尺度材料表征
TESCAN AMBER:多功能纳米分析 FIB-SEM,拓展您的材料研究能力
TESCAN SOLARIS:为您的研究实验室提供先进的纳米加工工作台
TESCAN SOLARIS X:一款用于深度切片和最高分辨率端点定位的等离子 FIB-SEM 平台,可用于封装级故障分析
制造理念
TESCAN 深知产品的最高质量和可靠性是其业务的基础。先进的资源和公司流程优化信息系统以及一流的技术设备和质量管理体系是满足客户对质量、价格和交付期望的最高前提条件。
全球足迹
TESCAN 在 80 多个国家/地区拥有 3,000 多台 SEM 设备。 TESCAN 的销售和服务网络覆盖全球多个国家。其全球销售代表和训练有素的技术人员团队确保提供快速的服务和客户支持。
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